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Franz Josef Gießibl

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Datei:Franz Josef Giessibl physicist.jpg
Franz Josef Gießibl 2022 am Center for Quantum Nanoscience in Seoul.

Franz Josef Gießibl (* 27. Mai 1962 in Amerang) ist ein deutscher Physiker und Universitätsprofessor an der Universität Regensburg.

Leben

Gießibl studierte von 1982 bis 1987 Physik an der Technischen Universität München und an der Eidgenössischen Technischen Hochschule Zürich. 1988 diplomierte er an der Technischen Universität München bei Professor Gerhard Abstreiter mit einer Arbeit über experimentelle Halbleiterphysik. Die Promotion erfolgte 1991 bei Nobelpreisträger Gerd Binnig an der Universität München über Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie. Nach der Promotion entwickelte er bei Park Scientific Instruments im Silicon Valley, Sunnyvale, USA das erste Rasterkraftmikroskop, das reaktive Oberflächen wie Silizium atomar auflösen konnte. Danach arbeitete er als Senior Associate zur Unternehmensberatungsfirma McKinsey von 1995 bis 1996 und erfand er in seiner Freizeit den qPlus Sensor, eine Sonde für die Rasterkraftmikroskopie. Danach wandte er sich wieder vollständig der Forschung an der Rasterkraftmikroskopie bei Professor Jochen Mannhart an der Universität Augsburg zu und wurde 2001 habilitiert.

2006 erhielt er einen Ruf auf einen Lehrstuhl für Angewandte und Experimentelle Physik an die Universität Regensburg, den er annahm. Von 2005 bis 2010 verbrachte er mehrere Forschungsaufenthalte am IBM Research Laboratory in Almaden, Kalifornien. Von Herbst 2015 bis Frühjahr 2016 war er Visiting Fellow am NIST in Gaithersburg, Maryland, USA und Gastprofessor an der University of Maryland in College Park.<ref>US Department of Commerce, NIST: Franz Giessibl. In: nist.gov. Archiviert vom Vorlage:IconExternal (nicht mehr online verfügbar) am 10. April 2016; abgerufen am 10. April 2016 (Lua-Fehler in Modul:Multilingual, Zeile 153: attempt to index field 'data' (a nil value)).</ref> Von 2023 bis 2025 verbrachte er mehrere Forschungsaufenthalte und ein Forschungssemester an der National University of Singapore mit Arbeiten zur Höchstauflösung zu Graphen-Nanostrukturen sowie Graphen-Janusnanobändern (Nature 2025).

Gießibl ist verheiratet mit einer Grundschullehrerin und hat zwei Söhne.<ref>Nanophysiker Franz Gießibl hantiert mit Apfelsinen. In: Die Welt. 23. Januar 2003 (welt.de [abgerufen am 29. Januar 2020]).</ref>

Wissenschaftliche Beiträge

Gießibl arbeitet seit dem Beginn seiner Promotion 1988 mit der Rasterkraftmikroskopie, verbessert sie seitdem kontinuierlich<ref>Spiegel Online – 27. Juli 2000: Wissenschaft Nanophysik: Atome unterm Mikroskop.</ref><ref>Die Welt. 24. Januar 2003: Nanophysiker Franz Giessibl hantiert mit Apfelsinen.</ref><ref>The New York Times. 22. Februar 2008: Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom.</ref> und hat grundlegende experimentelle,<ref>F. J. Giessibl: Atomic Resolution of the Silicon (111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 267, Nr. 5194, 1995, S. 68–71, doi:10.1126/science.267.5194.68, PMID 17840059.</ref><ref name="PMID10903196">F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: Subatomic Features on the Silicon (111)-(7x7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 289, Nr. 5478, 2000, S. 422–426, PMID 10903196 (science.sciencemag.org).</ref> instrumentierungsbezogene<ref>F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa: A comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length extensional resonators. In: Physical Review B. Band 84, Nr. 12, 2011, ISSN 1098-0121, doi:10.1103/PhysRevB.84.125409, arxiv:1104.2987 (15 Seiten).</ref> und theoretische<ref>F. J. Giessibl: Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy. In: Physical Review B. Band 56, Nr. 24, 1997, S. 16010–16015, doi:10.1103/PhysRevB.56.16010.</ref><ref>F. J. Giessibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. Band 75, Nr. 3, 2003, ISSN 0034-6861, S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949, arxiv:cond-mat/0305119.</ref> Arbeiten zur Rasterkraftmikroskopie verfasst.

ScholarGPS zählt ihn zu den sechs am höchsten bewerteten Rasterkraftmikroskopikern (Lifetime) und unter die 14 bedeutendsten Mikroskopiker (Lifetime).<ref>Vorlage:Cite book/Name: [Internetquelle: archiv-url ungültig Franz J. Giessibl.] In: scholargps.com. , archiviert vom Vorlage:IconExternal (nicht mehr online verfügbar) am Vorlage:Cite book/URL; abgerufen am 26. April 2026 (Lua-Fehler in Modul:Multilingual, Zeile 153: attempt to index field 'data' (a nil value)).Vorlage:Cite book/URLVorlage:Cite book/MeldungVorlage:Cite book/Meldung2Vorlage:Cite book/MeldungVorlage:Cite book/MeldungVorlage:Cite book/MeldungVorlage:Cite book/MeldungVorlage:Cite book/Meldung</ref>

Basierend auf seinen grundlegenden Forschungen zur Rasterkraftmikroskopie erfand er den qPlus Sensor, seinen wohl bedeutendsten Beitrag zu diesem Gebiet.<ref>F. J. Giessibl: Device for noncontact intermittent contact scanning of a surface and a process therefore. US-Patent 6240771.</ref><ref>F. J. Giessibl: Sensor for noncontact profiling of a surface. US-Patent 8393009.</ref> Dieser ursprünglich auf einer Quarzstimmgabel basierende Sensor ist etwa um einen Faktor 100 steifer als herkömmliche Silizium-Kraftdetektoren und kann dadurch selbst annähernd im Kontakt mit einer Oberfläche stabil mit kleinen Amplituden von Bruchteilen eines Atomdurchmessers schwingen. Der qPlus Sensor wird heute in vielen kommerziellen und selbstgebauten Rasterkraftmikroskopen weltweit eingesetzt<ref>Franz J. Giessibl: The qPlus sensor, a powerful core for the atomic force microscope. In: Review of Scientific Instruments. Band 90, 2019, S. 011101, doi:10.1063/1.5052264.</ref> und hat es zum Beispiel ermöglicht, subatomare Ortsauflösung auf einzelnen Atomen<ref name="PMID10903196"/><ref>M. Emmrich et al.: Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters. In: Science. Band 348, Nr. 6232, 2015, S. 308–311, hier S. 308, doi:10.1126/science.aaa5329, PMID 25791086.</ref> und submolekulare Auflösung auf organischen Molekülen<ref>L. Gross et al.: The chemical structure of a molecule resolved by atomic force microscopy. In: Science. Band 325, Nr. 5944, 2009, S. 1110–1114, hier S. 1110, doi:10.1126/science.1176210, PMID 19713523.</ref> zu erreichen sowie die Bindung zwischen natürlichen und durch Quantum Corrals gebildeten künstlichen Atomen zu vermessen.<ref>F. Stilp et al.: Very weak bonds to artificial atoms formed by quantum corrals. In: Science. Band 372, Nr. 6547, 2021, S. 1196–1200, hier S. 1196, doi:10.1126/science.abe2600, PMID 34010141.</ref>

Bücher

  • S. Morita, F. J. Giessibl, R. Wiesendanger (Hrsg.): Noncontact Atomic Force Microscopy. Band 2 (= NanoScience and Technology). Springer, 2012, doi:10.1007/978-3-642-01495-6.
  • S. Morita, F. J. Giessibl, E. Meyer, R. Wiesendanger (Hrsg.): Noncontact Atomic Force Microscopy. Band 3 (= NanoScience and Technology). Springer, 2015, doi:10.1007/978-3-319-15588-3.
  • Franz J. Gießibl: Erster Blick in das Innere eines Atoms – Begegnungen mit Gerhard Richter zwischen Kunst und Wissenschaft. Verlag der Buchhandlung Walther König und Franz König, Köln 2022.

Wissenschaftspreise

Weitere Ehrungen

Besondere Vorträge

Weblinks

Commons: Franz Josef Gießibl – Sammlung von Bildern, Videos und Audiodateien

Vorträge (Auswahl)

Interviews (Auswahl)

Zu Gießibl

Einzelnachweise

<references />

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Personendaten
NAME Gießibl, Franz Josef
KURZBESCHREIBUNG deutscher Physiker
GEBURTSDATUM 27. Mai 1962
GEBURTSORT Amerang
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