Elektronenholographie
Elektronenholographie ist ein Phasenkontrast-Verfahren der Elektronenmikroskopie, mit dem extrem hohe Auflösungen erreicht werden können.
Arbeitsweise
Bei der Elektronenholographie wird der Elektronenstrahl mit einem elektrischen Biprisma in zwei Teilstrahlen aufgespalten. Ein Teilstrahl durchdringt das Untersuchungsobjekt, der andere Teilstrahl läuft ungestört weiter. Auf dem Schirm vereinigen sich die beiden Teilstrahlen zu einem Interferenzmuster, dem Elektronenhologramm. Dieses enthält alle Informationen der Elektronenwelle. Mithilfe eines Computers können Amplitude und Phase rekonstruiert werden und man erhält die komplexe Bildwelle. Diese kann als Phasenbild oder Amplitudenbild dargestellt werden.
Hochauflösung
Das Verfahren kann für die hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie eingesetzt werden. Dazu werden die Bildfehler, die durch die Magnetlinsen verursacht werden, numerisch herausgerechnet.
Literatur
- {{#invoke:Vorlage:Literatur|f}}
- {{#invoke:Vorlage:Literatur|f}}
{{safesubst:#ifeq:0|10| {{#switch: Elektronenholographie |Navigationsleiste|NaviBlock|0=|#default= Vorlage:Templatetransclusioncheck Vorlage:Dokumentation/ruler }}}}Vorlage:Klappleiste/Anfang {{#if:
|
Lichtmikroskop | Röntgenmikroskop | Elektronenmikroskop | Neutronenmikroskop | Helium-Ionen-Mikroskop | Ultraschallmikroskop | Rastersondenmikroskop | Elektronenholographie
|
Lichtmikroskop | Röntgenmikroskop | Elektronenmikroskop | Neutronenmikroskop | Helium-Ionen-Mikroskop | Ultraschallmikroskop | Rastersondenmikroskop | Elektronenholographie }} Vorlage:Klappleiste/Ende
{{#ifeq: s | p | | {{#if: 4218195-1sh93005203 | |
}} }}{{#ifeq:||{{#if: | [[Kategorie:Wikipedia:GND fehlt {{#invoke:Str|left|{{{GNDCheck}}}|7}}]] }}{{#if: | {{#if: | | }} }} }}{{#if: | {{#ifeq: 0 | 2 | | }} }}{{#if: | {{#ifeq: 0 | 2 | | }} }}{{#ifeq: s | p | {{#if: 4218195-1 | | {{#if: {{#statements:P227}} | | }} }} }}{{#ifeq: s | p | {{#if: 4218195-1 | {{#if: {{#invoke:Wikidata|pageId}} | {{#if: {{#statements:P227}} | | }} }} }} }}{{#ifeq: s | p | {{#if: sh93005203 | | {{#if: {{#statements:P244}} | | }} }} }}{{#ifeq: s | p | {{#if: sh93005203 | {{#if: {{#invoke:Wikidata|pageId}} | {{#if: {{#statements:P244}} | | }} }} }} }}{{#ifeq: s | p | {{#if: | | {{#if: {{#statements:P214}} | | }} }} }}{{#ifeq: s | p | {{#if: | {{#if: {{#invoke:Wikidata|pageId}} | {{#if: {{#statements:P214}} | | }} }} }} }}Vorlage:Wikidata-Registrierung
- Wikipedia:GND fehlt
- Wikipedia:Normdaten-TYP falsch oder fehlend
- Wikipedia:GND in Wikipedia fehlt, in Wikidata vorhanden
- Wikipedia:GND in Wikipedia vorhanden, fehlt jedoch in Wikidata
- Wikipedia:LCCN in Wikipedia fehlt, in Wikidata vorhanden
- Wikipedia:LCCN in Wikipedia vorhanden, fehlt jedoch in Wikidata
- Wikipedia:VIAF in Wikipedia fehlt, in Wikidata vorhanden
- Wikipedia:VIAF in Wikipedia vorhanden, fehlt jedoch in Wikidata
- Elektronenmikroskopisches Verfahren
- Oberflächenphysik