https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?action=history&feed=atom&title=Transfer_Line_Methode Transfer Line Methode - Versionsgeschichte 2026-05-19T17:59:36Z Versionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale Kopie MediaWiki 1.43.8 https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Transfer_Line_Methode&diff=1431076&oldid=prev imported>Fan-vom-Wiki: Belege fehlen 2024-02-20T21:25:38Z <p>Belege fehlen</p> <p><b>Neue Seite</b></p><div>{{Belege fehlen}}<br /> Die &#039;&#039;&#039;Transfer Line Methode&#039;&#039;&#039; (auch &#039;&#039;Transferlängen-Methode&#039;&#039; oder &#039;&#039;Transferlängen-Messung&#039;&#039;) ist ein Verfahren aus den Halbleiter- und Werkstoffwissenschaften und bezeichnet die Messung des [[Kontaktwiderstand|Kontaktwiderstands]] mit Hilfe einer zweidimensionalen Teststruktur. Das Verfahren wurde erstmals 1964 von dem Physiker [[William_B._Shockley|William Shockley]] eingeführt. Es ist heutzutage ein oft verwandtes Verfahren, um die Übergangswiderstände von Halbleiter- und Metallschichten in zum Beispiel der [[Mikrosystemtechnik]] zu bestimmen.<br /> <br /> [[Kategorie:Elektrische Messtechnik]]</div> imported>Fan-vom-Wiki