https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?action=history&feed=atom&title=Standard_Test_Data_FormatStandard Test Data Format - Versionsgeschichte2026-05-19T14:39:03ZVersionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale KopieMediaWiki 1.43.8https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Standard_Test_Data_Format&diff=105359&oldid=previmported>Invisigoth67: typo2024-06-27T07:21:09Z<p>typo</p>
<p><b>Neue Seite</b></p><div>Das '''STDF''' (''Standard Test Data Format'') ist ein record-orientiertes, [[Binärdatei|binäres]] [[Datenformat]] zum Speichern von [[Messdaten]] in der [[Automatic Test Equipment|ATE]]-Branche. Es kann in ein äquivalentes [[ASCII]]-Format&nbsp;(ATDF) umgewandelt werden.<ref name="libstdfdocs">Spezifikationen STDT und ATDF in den [https://code.google.com/p/libstdf/source/browse/trunk/docs/ Libstdf Docs]</ref><br />
<br />
Das Datenformat wurde von [[Teradyne]] entwickelt, inzwischen von vielen Testsystemherstellern unterstützt und hat sich zu einem [[Quasi-Standard]] entwickelt, der durch die [[IEEE]] Test Technology Standards Group<ref>[http://grouper.ieee.org/groups/ttsg/ IEEE TTSG (Test Technology Standards Group/Committee)], offizielle Website</ref> und durch [[Semiconductor Equipment and Materials International|SEMI]]<ref>[http://www.semi.org/IndustrySegments/Test/CAST/ SEMI Collaborative Alliance for Semiconductor Test (CAST)], offizielle Website</ref> weiterentwickelt wird.<br />
<br />
== Versionen ==<br />
* STDF V4<ref name="libstdfdocs" /><br />
* STDF V3<br />
<br />
== Einzelnachweise ==<br />
<references /><br />
<br />
[[Kategorie:Datenformat]]</div>imported>Invisigoth67