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	<title>Signaturanalyse (Digitaltechnik) - Versionsgeschichte</title>
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	<updated>2026-06-08T12:59:42Z</updated>
	<subtitle>Versionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale Kopie</subtitle>
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		<id>https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Signaturanalyse_(Digitaltechnik)&amp;diff=2148244&amp;oldid=prev</id>
		<title>imported&gt;K41f1r am 19. Dezember 2021 um 13:41 Uhr</title>
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		<updated>2021-12-19T13:41:20Z</updated>

		<summary type="html">&lt;p&gt;&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Neue Seite&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;In der [[Digitaltechnik]] ist die &amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;Signaturanalyse&amp;#039;&amp;#039;&amp;#039; ein Testverfahren, um Schaltungen auf ihre korrekte Funktion zu überprüfen.&lt;br /&gt;
Dabei werden Signale aus Schaltungsteilen über einen längeren Zeitraum gesammelt und daraus ein kurzer [[Vektor|Bitvektor]] (die sogenannte &amp;#039;&amp;#039;[[Signatur]]&amp;#039;&amp;#039;) ermittelt.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Aus dem Vergleich dieser [[Zeichenkette]] mit einem [[Sollwert]] wird die korrekte Funktion der Gesamtschaltung gefolgert. Alle Einfachfehler werden bei einer Testsequenz länger als die Schieberegisterlänge erkannt. Für längere Sequenzen wird die Fehlererkennungsrate F eine Funktion der Schieberegisterlänge und ergibt sich zu F = 1 − 2&amp;lt;sup&amp;gt;−n&amp;lt;/sup&amp;gt;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Beispiel: n = 16 → F = 1 − 2&amp;lt;sup&amp;gt;−16&amp;lt;/sup&amp;gt; ist rund → 0,999985&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Zur Ermittlung der Signatur werden oft [[Linear rückgekoppeltes Schieberegister|linear rückgekoppelte Schieberegister]] (LFSR) eingesetzt.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Zu Signaturanalyse zählen die Varianten:&lt;br /&gt;
* {{lang|en|Multiple Input Signature Register}} (MISR): Parallele Beobachtung mehrerer Signale&lt;br /&gt;
* {{lang|en|Build In Logic Block Observation}} (BILBO): Realisierung verschiedener Betriebsarten über zusätzliche [[Multiplexer]] an den Speicherelementen, wobei diese noch zusätzlich durch Techniken des LSSD erweiterbar sind, welches eine zustandsempfindliche Betrachtung statt einer Betrachtung auf Grund der Flankensteilheit zur Folge hat.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Literatur ==&lt;br /&gt;
* Christian Siemers, Axel Sikora: Taschenbuch der Digitaltechnik, ISBN 3-446-21862-9&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Weblinks ==&lt;br /&gt;
* [https://d-nb.info/1005203032/34 Selbsttest mit Akkumulatoren]&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Elektrische Messtechnik]]&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Prüfverfahren]]&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>imported&gt;K41f1r</name></author>
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