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	<title>Profilometer - Versionsgeschichte</title>
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	<updated>2026-05-23T09:05:27Z</updated>
	<subtitle>Versionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale Kopie</subtitle>
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		<title>imported&gt;Crazy1880: Aufzählung</title>
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		<updated>2022-09-11T14:44:38Z</updated>

		<summary type="html">&lt;p&gt;Aufzählung&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Neue Seite&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;[[Datei:Contact profilometer at LAAS 0419.jpg|mini|Rechnergestütztes Kontaktprofilometer]]&lt;br /&gt;
Ein &amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;Profilometer&amp;#039;&amp;#039;&amp;#039; ist ein Messgerät zur zwei- oder dreidimensionalen Vermessung mikroskopischer oder submikroskopischer [[Topografie (Messtechnik)|Oberflächentopografien]]. Profilometer arbeiten entweder &amp;#039;&amp;#039;[[Tastschnittverfahren|taktil]]&amp;#039;&amp;#039; mit einer kleinen Diamantnadel, die die Oberfläche abtastet, oder berührungslos mit optischen Methoden wie der [[Konfokaltechnik]] oder der [[Laserprofilometrie]] bzw. der [[Weißlichtinterferometrie]].&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Die so gemessenen Profile werden typischerweise mit standardisierten Verfahren, beispielsweise nach [[ISO 25178]] oder anderen Methoden der [[Geometrische Produktspezifikation|geometrischen Produktspezifikation (GPS)]], ausgewertet, um daraus charakteristische Kenngrößen abzuleiten. Die technische Bedeutung von Profilometern ergibt sich aus dem entscheidenden Einfluss der Oberflächencharakteristik auf das Materialverhalten.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Siehe auch ==&lt;br /&gt;
* [[Tastschnittverfahren]]&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Weblinks ==&lt;br /&gt;
* {{elpt|white_light_interferometers|White Light Interferometers}}&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
{{SORTIERUNG:Weisslichtinterferometrie}}&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Interferometrie]]&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Dimensionales Messgerät]]&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Optisches Messgerät]]&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>imported&gt;Crazy1880</name></author>
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