https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?action=history&feed=atom&title=Optische_FrequenzbereichsreflektometrieOptische Frequenzbereichsreflektometrie - Versionsgeschichte2026-06-05T23:17:35ZVersionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale KopieMediaWiki 1.43.8https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Optische_Frequenzbereichsreflektometrie&diff=1114762&oldid=previmported>CyDeFect: /* growthexperiments-addlink-summary-summary:2|0|0 */2025-01-30T10:09:33Z<p><span class="autocomment">growthexperiments-addlink-summary-summary:2|0|0</span></p>
<p><b>Neue Seite</b></p><div>Die '''Optische Frequenzbereichsreflektometrie''', auch bekannt unter der englischen Bezeichnung '''O'''ptical '''F'''requency '''D'''omain '''R'''eflectometry kurz OFDR, ist ein Verfahren zur Ermittlung und Analyse von Lauflängen und Reflexionscharakteristika von [[Elektromagnetische Welle|elektromagnetischen Wellen]] und Signalen im Wellenbereich des [[Licht]]s. Sie ist verwandt mit der [[Optische Zeitbereichsreflektometrie|optischen Zeitbereichsreflektometrie]] (OTDR).<br />
Mit dem Verfahren ist unter anderem die Messung des Temperaturverlaufes, der Feuchte oder des Kraftverlaufes entlang eines [[Lichtwellenleiter]]s möglich,<ref name="EP0692705">{{Patent| Land=EP| V-Nr=0692705| Code=B1| Titel=Verfahren zur Auswertung optisch rückgestreuter Signale zur Bestimmung eines streckenabhängigen Messprofils eines Rückstreumediums| A-Datum=1995-07-14| V-Datum=1998-03-11| Anmelder=Felten & Guilleaume Energietechnik AG| Erfinder=Ulrich Glombitza}}</ref> was beispielse zur Erkennung und Klassifizierung von Bränden in Tunneln genutzt werden kann.<ref name="EP2016373">{{Patent| Land=EP| V-Nr=2016373| Code=B1| Titel=Verfahren und Messeinrichtung zur räumlich verteilten und/oder entfernten Messung von physikalischen Größen| A-Datum=2007-03-29| V-Datum=2015-11-11| Erfinder=Ulrich Glombitza}}</ref><br />
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== Verfahren ==<br />
Das OFDR-Verfahren wurde im Jahre 1995 zum Patent angemeldet.<ref name="EP0692705" /><br />
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OFDR arbeitet nicht wie die [[OTDR]]-Technik im Zeitbereich, sondern im [[Frequenz]]bereich. Man erhält beim OFDR-Verfahren eine Aussage über den örtlichen [[Temperatur]]verlauf, wenn das während der gesamten Messzeit detektierte Rückstreusignal als Funktion der Frequenz und somit komplex gemessen (komplexe [[Übertragungsfunktion]]) und anschließend [[Fourier-Transformation|fouriertransformiert]] wird.<br />
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Die wesentlichen Vorzüge der OFDR-Technik sind der quasi Dauerstrich-Betrieb des Lasers und die schmalbandige Detektion des optischen Rückstreusignals, wodurch ein deutlich höheres Signal-Rauschverhältnis als bei der Pulstechnik erreicht wird. Dieser technische Vorzug ermöglicht den Einsatz von preiswerten Halbleiterlaserdioden und die Verwendung von preiswerteren elektronischen Baugruppen für die Signalmittelung. Demgegenüber steht die technisch schwierige Messung des Streulichtes (komplexe Messung nach Betrag und Phase) und eine durch die FFT-Berechnung aufwendige [[Signalverarbeitung]] mit höheren Linearitätsanforderungen der elektronischen Baugruppen.<br />
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== Siehe auch ==<br />
* [[Zeitbereichsreflektometrie]]<br />
<br />
== Weblinks ==<br />
* [http://rosdok.uni-rostock.de/file/rosdok_derivate_0000003708/Dissertation_Abbenseth_2009.pdf Optische Codemultiplexverfahren in der Sensorik S. 10 ff.] (abgerufen am 12. März 2018)<br />
* Archiviert durch archive.org: [http://web.archive.org/web/20181102200906/http://openaccess.iyte.edu.tr/bitstream/handle/11147/2602/2602.pdf?sequence=1&isAllowed=y Optical Frequency Domain Reflectometry]; [http://openaccess.iyte.edu.tr/bitstream/handle/11147/2602/2602.pdf?sequence=1&isAllowed=y Original] (abgerufen am 16. März 2018)<br />
* [https://pdfs.semanticscholar.org/0d84/85cca351dc8ff725197a4f1f6b015e975142.pdf OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETER FOR CHARACTERIZATION OF OPTICAL NETWORKS AND DEVICES] (abgerufen am 16. März 2018)<br />
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== Einzelnachweise ==<br />
<references /><br />
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<br />
[[Kategorie:Optische Messtechnik]]<br />
[[Kategorie:Optische Nachrichtentechnik]]</div>imported>CyDeFect