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	<title>End of life test - Versionsgeschichte</title>
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	<updated>2026-06-04T21:17:30Z</updated>
	<subtitle>Versionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale Kopie</subtitle>
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		<id>https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=End_of_life_test&amp;diff=1614081&amp;oldid=prev</id>
		<title>imported&gt;Biggerj1 am 22. Juli 2024 um 19:27 Uhr</title>
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		<updated>2024-07-22T19:27:49Z</updated>

		<summary type="html">&lt;p&gt;&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Neue Seite&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;[[File:IABG Test Setup A380 Dresden bent wing.jpg|thumb|upright=1.35|Ermüdungstest eines [[Airbus A380]] Flügels]]&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Mit der englischen Bezeichnung &amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;End of life test&amp;#039;&amp;#039;&amp;#039; (Abkürzung EOL-Test) werden Zuverlässigkeitstests bezeichnet, die die Lebenszeit-Grenzen einer Komponente ermitteln. Dies kann bedeuten, dass beispielsweise elektronische Komponenten so lange bestimmten Belastungen wie Hochtemperatur, Feuchte oder Temperaturwechsel ausgesetzt werden, bis sie einen Totalausfall erleiden, z.&amp;amp;nbsp;B. mit dem [[Highly Accelerated Life Test]].&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Das Ziel ist, die typische Lebensdauer eines Systems zu ermitteln und damit den Verlauf der [[Badewannenkurve]] zu ermitteln. Eine Alternative ist die Definition einer Veränderung einer messbaren Observablen als Ausfallkriteriums anstelle des Totalausfalls. Eine Auswertung kann unter anderem mittels der [[Ereigniszeitanalyse]] und dort unter Annahme einer [[Weibull-Verteilung]] erfolgen. &lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Diese Systematik ist unter anderem integraler Bestandteil von [[Design for Reliability]] Methoden, wie zum Beispiel der [[Robustness Validation]] Methode für die Qualifikation von Halbleiterbauelementen.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Literatur ==&lt;br /&gt;
* Jerry C. Whitaker: &amp;#039;&amp;#039;The Electronics Handbook.&amp;#039;&amp;#039; CRC Press, 1996, ISBN 0-8493-8345-5.&lt;br /&gt;
* &amp;#039;&amp;#039;Failure Mechanism Analysis as Enabler for improved Test and Reliability Strategy – the Road to Success?&amp;#039;&amp;#039; In: &amp;#039;&amp;#039;Advanced Microsystems for Automotive Applications.&amp;#039;&amp;#039; Verlag Springer, Berlin / Heidelberg 2007, ISBN 978-3-540-71324-1, S. 229–235.&lt;br /&gt;
* &amp;#039;&amp;#039;Handbook for Robustness Validation of Semiconductor Devices in Automotive Applications.&amp;#039;&amp;#039; In: &amp;#039;&amp;#039;ZVEI.&amp;#039;&amp;#039; 04/2007, SAE J1879&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Qualitätsmanagement]]&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Produktionswirtschaft]]&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>imported&gt;Biggerj1</name></author>
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