https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?action=history&feed=atom&title=Built-in_self-testBuilt-in self-test - Versionsgeschichte2026-06-03T20:21:18ZVersionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale KopieMediaWiki 1.43.8https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Built-in_self-test&diff=198236&oldid=previmported>CyberOne25 am 10. März 2025 um 13:22 Uhr2025-03-10T13:22:19Z<p></p>
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'''Built-in self-test''' ('''BIST''') bedeutet, dass ein [[Elektronische Schaltung|elektronischer Baustein]] eine integrierte Testschaltung besitzt, welche [[Testsignal]]e erzeugt und meist auch mit vorgegebenen richtigen Antwort-Signalen vergleicht, so dass das Testresultat an ein&nbsp;ATE ([[Automatic Test Equipment]]) ausgegeben werden kann. Built-in self-tests sind durch automatisierte Designprozesse immer einfacher zu [[implementieren]] und nehmen bei der heute üblichen großen Anzahl von Schaltelementen relativ wenig Platz ein, reduzieren aber den materiellen und zeitlichen Aufwand beim [[Test]]en erheblich.<br />
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Sie werden auch zum regulären [[Power-on self-test|Selbsttest]] von [[Prozessor]]en während ihrer Anwendung oder beim Ein- bzw. Ausschalten verwendet, um Fehlfunktionen rechtzeitig zu erkennen und Folgeschäden zu vermeiden.<br />
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Verschiedene Arten von Built-in self-tests sind:<br />
* Analog- und [[Mixed-Signal]]-BIST<br />
* [[Boundary Scan Test]]<br />
* Logik-BIST<br />
* Prozessor-BIST<br />
* [[Signaturanalyse]]<br />
* Speicher-BIST – z.&nbsp;B. mit dem [[Marinescu-Algorithmus]].<br />
<br />
== Weblinks ==<br />
* Brian Harrington: [https://www.analog.com/en/analog-dialogue/articles/bist-for-analog-weenies.html ''BIST for Analog Weenies''] auf analog.com<br />
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[[Kategorie:Elektrische Messtechnik]]</div>imported>CyberOne25