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	<title>Boundary Scan Description Language - Versionsgeschichte</title>
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	<updated>2026-05-22T16:52:08Z</updated>
	<subtitle>Versionsgeschichte dieser Seite in Wikipedia (Deutsch) – Lokale Kopie</subtitle>
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		<id>https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Boundary_Scan_Description_Language&amp;diff=1247090&amp;oldid=prev</id>
		<title>imported&gt;APPERbot: Bot: Fix Parameter autor bei Internetquelle (&quot;von&quot; als Prefix entfernt)</title>
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		<updated>2023-09-08T14:23:56Z</updated>

		<summary type="html">&lt;p&gt;Bot: Fix Parameter autor bei Internetquelle (&amp;quot;von&amp;quot; als Prefix entfernt)&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Neue Seite&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;Die &amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;Boundary Scan Description Language&amp;#039;&amp;#039;&amp;#039; (kurz: &amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;BSDL&amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;) ist eine Sprache zur Beschreibung von [[Boundary Scan Test|Boundary-Scan-Test]]-Fähigkeiten [[Joint Test Action Group|JTAG]]-kompatibler [[Elektronik|elektronischer]] Bauteile. Der [[Boundary-Scan-Test]] ist ein [[Test]]verfahren für [[Integrierter Schaltkreis|Digitale Bausteine]], mit dem defekte Bauteilpins, defekte Verbindungen auf einer [[Leiterplatte]] festgestellt werden können. In digitalen Chips dient das Verfahren auch dem Test der internen Schaltungsfunktion.&amp;lt;ref&amp;gt;{{Internetquelle |autor=Anthony Sparks, Wolfgang Hascher |url=https://www.elektroniknet.de/elektronik/messen-testen/10-tipps-fuer-boundary-scan-1482.html |titel=Halbleiter-Test: 10 Tipps für Boundary-Scan |werk= |hrsg=Elektronik Net |datum=2008-10-09 |abruf=2020-10-01 |sprache=de}}&amp;lt;/ref&amp;gt; Ursprünglich definiert in 1149.1b-1994 “Supplement to IEEE Std 1149.1-1990, IEEE standard test access port and boundary-scan architecture” ist BSDL jetzt Teil des 1149.1-2001 “IEEE standard test access port and boundary-scan architecture”.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
BSDL basiert auf einer vereinfachten [[Very High Speed Integrated Circuit Hardware Description Language|VHDL]]-[[Syntax|Sprachsyntax]]&amp;lt;ref name=BSC1&amp;gt;{{cite web|url=https://www.corelis.com/education/BSDL_Tutorial.htm |title=BSDL Tutorial |publisher=Corelis Education|language=en}}&amp;lt;/ref&amp;gt; um zu beschreiben, über welche Boundary-Scan-Test-Fähigkeiten ein [[elektrisches Bauelement]] verfügt. Diese Beschreibung wird von den Herstellern als .bsdl-Datei zur Verfügung gestellt. Diese Dateien werden von Boundary Scan Tools dazu benutzt, um Testprogramme für Boundary-Scan-Tests auf [[Scan Test|Baustein-]] oder auf Leiterplattenebene zu generieren, oder sie werden bei der [[Hardware|Hardware-Fehlerdiagnose]] eingesetzt.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Eine BSDL-Datei enthält eine Auflistung aller im Baustein vorhandenen Boundary Scan-Zellen und beschreibt, wie diese mit den Bausteinpins verbunden sind, welche Funktion sie haben und wie sie in einem Boundary Scan Test eingesetzt werden können. Die BSDL-Datei enthält außerdem die von dem Baustein unterstützten JTAG-Befehle und ihre [[Maschinensprache|OpCodes]]. Oft sind auch noch Angaben über bei der Nutzung des JTAG-Ports zu beachtende Besonderheiten enthalten. Dies können zum Beispiel besondere [[Reset]]-Bedingungen sein.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Weblinks ==&lt;br /&gt;
{{Webarchiv | url=http://www.itcprogramdev.org/35th_anniv/blurbs/1990_3.asp | wayback=20080905134532 | text=&amp;#039;&amp;#039;A Language for Describing Boundary-Scan Devices&amp;#039;&amp;#039;}} – Das Paper, in dem BSDL vorgeschlagen wurde (englisch)&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Einzelnachweise ==&lt;br /&gt;
&amp;lt;references /&amp;gt;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Beschreibungssprache]]&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>imported&gt;APPERbot</name></author>
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