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	<title>Wikipedia (Deutsch) – Lokale Kopie - Benutzerbeiträge [de]</title>
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		<id>https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Ritzrahmen&amp;diff=2641957</id>
		<title>Ritzrahmen</title>
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		<updated>2018-05-18T22:41:25Z</updated>

		<summary type="html">&lt;p&gt;188.92.33.51: &lt;/p&gt;
&lt;hr /&gt;
&lt;div&gt;[[Datei:Microprocesseurs sur une tranche de silicium.JPG|thumb|right|Chips auf einem Wafer vor der Zerteilung. Zwischen den einzelnen Chips ist der Ritzrahmen zu sehen, der wie eine über den Wafer gelegte Gitterstruktur wirkt.]]&lt;br /&gt;
Als &#039;&#039;&#039;Ritzrahmen&#039;&#039;&#039; oder auch Ritzgraben ({{enS|&#039;&#039;scribe line&#039;&#039;}}) wird in der [[Halbleitertechnik]] der Bereich zwischen den nutzbaren [[Die (Halbleitertechnik)|Dies]] auf einem [[Wafer]] bezeichnet. Er dient beim Zerteilen der Wafer in die einzelnen Chips als Verlustbereich beim Sägen bzw. Ritzen (engl. {{lang|en|scribe}}).&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Während der Herstellung bleibt dieser Bereich jedoch nicht ungenutzt. Er wird für die Unterbringung von [[Teststruktur]]en verwendet, beispielsweise für die Messung des [[Kontaktwiderstand]]s, des [[Overlay-Versatz]]es, der [[kritische Dimension]] (CD), der Schichtdicke, von Tiefenprofilen usw. Diese Teststrukturen werden in der Regel nur während der Herstellung benötigt. Die Platzierung im Ritzrahmen spart damit vor allem kostbare Chipfläche.&amp;lt;ref&amp;gt;vgl. {{Literatur | Autor = Serope Kalpakjian, Steven R. Schmid, Ewald Werner | Titel = Werkstofftechnik | Verlag = Pearson | Jahr = 2011 | ISBN = 9783868940060 | Seiten = 1104}}&amp;lt;/ref&amp;gt; Für einige moderne Fertigungsverfahren in der Halbleitertechnik sind die Informationen aus dem Ritzgraben jedoch nicht mehr ausreichend, beispielsweise Overlay- und CD-Messungen für den Anlagenabgleich. Sie benötigen auch Informationen aus dem Bereich des eigentlichen Chips, dem sogenannten In-Die-Bereich. Daher sind im Ritzgraben die Mehrzahl aber längst nicht alle Teststrukturen untergebracht.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
== Einzelnachweise ==&lt;br /&gt;
&amp;lt;references /&amp;gt;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
[[Kategorie:Mikroelektronik]]&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>188.92.33.51</name></author>
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		<id>https://wiki-de.moshellshocker.dns64.de/index.php?title=Vorlage:Tipp_des_Tages/52&amp;diff=2870505</id>
		<title>Vorlage:Tipp des Tages/52</title>
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		<updated>2014-06-27T13:38:07Z</updated>

		<summary type="html">&lt;p&gt;188.92.33.51: &lt;/p&gt;
&lt;hr /&gt;
&lt;div&gt;&#039;&#039;&#039;[[Hilfe:Einzelnachweise|Einzelnachweise]] für Fortgeschrittene&#039;&#039;&#039;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Falls man eine Quelle an mehreren Textstellen verwenden möchte, so wenden viele Wikipedianer folgende Prozedur an:&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
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&lt;br /&gt;
&#039;&#039;&#039;Eine bessere Methode ist folgende:&#039;&#039;&#039; Alle betreffenden Textstellen werden mit dem &#039;&#039;Tag&#039;&#039; &amp;lt;code&amp;gt;&amp;lt;nowiki&amp;gt;&amp;lt;ref name=&amp;quot;Identifizierender Name x&amp;quot; /&amp;gt;&amp;lt;/nowiki&amp;gt;&amp;lt;/code&amp;gt; versehen. Unter dem Abschnitt &#039;&#039;Einzelnachweise&#039;&#039; wird dann erst die tatsächliche Quelle angegeben:&lt;br /&gt;
 &amp;lt;nowiki&amp;gt;&amp;lt;references&amp;gt;&amp;lt;/nowiki&amp;gt;&lt;br /&gt;
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&lt;br /&gt;
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[[Kategorie:Vorlage:Tipp des Tages|#52]]&lt;br /&gt;
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		<author><name>188.92.33.51</name></author>
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